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产品系列 -
半导体
X ray 检测设备
特性:
能量低, 高穿透能力
解像度高
系統操作容易
简单, 安全的设计
应用方面:
BGA 封装电路板的检测
多层封裝电路板的内层检测
推荐型号:
Jewel Box 90T
Jewel Box Ultra Compact
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